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  • PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱

    YZ-PCT-35 PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱是測(cè)試IC、LED、光伏、磁鐵、線路板、電子部件等產(chǎn)品在溫度、濕度、壓力等綜合環(huán)境狀況下暴露產(chǎn)品設(shè)計(jì)及成品的密封性能缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。

    更新日期：2021-06-24
    訪問次數(shù)：4406
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
    產(chǎn)品產(chǎn)地：上海
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